Библиотека диссертаций Украины Полная информационная поддержка
по диссертациям Украины
  Подробная информация Каталог диссертаций Авторам Отзывы
Служба поддержки




Я ищу:
Головна / Фізико-математичні науки / Фізика твердого тіла


Середенко Роман Флорович. Модифікована модель динамічної високороздільної рентгенівської дифрактометрії : Дис... канд. наук: 01.04.07 - 2008.



Анотація до роботи:

Середенко Р. Ф. Модифікована модель динамічної високороздільної рентгенівської дифрактометрії. – Рукопис.

Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.07 – фізика твердого тіла. – Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова Національної академії наук України, Київ, 2008.

Створено модифіковану динамічну дифракційну модель високороздільної рентгенівської дифрактометрії, яка враховує ефекти асиметрії інтенсивності дифузного розсіяння (ДР) від мікродефектів з розкидом за розмірами, інтенсивність теплового ДР, а також вплив скінченної величини приймальної апертури детектора та інші інструментальні фактори.

Вперше для трикристального дифрактометра на основі розробленої моделі показано суттєвий вплив ефектів асиметрії ДР від мікродефектів у монохроматорі на форму вимірюваних дифракційних профілів. Доведено, що цей ефект є причиною різкого асиметричного перепаду висоти псевдопіка порівняно з висотою головного піка при протилежних відхиленнях досліджуваного кристала, природа якого не була відомою.

Встановлено природу чутливості кривих дифракційного відбиття до типу дефектів навіть з однаковими або близькими розмірами (преципітатів та дислокаційних петель), яка обумовлена спільним врахуванням у модифікованій дифракційній моделі дифузного розсіяння Хуаня-Кривоглаза і Стокса-Вільсона, а також ефектів асиметрії.

Розроблена модель вперше дозволила надійно визначити кількісні характеристики складної дефектної структури монокристалів кремнію, вирощених методами зонної плавки та Чохральского, а також провести перевірку існуючих теоретичних моделей кінетики дефектоутворення в кристалах.

Публікації автора:

  1. Є.М. Кисловський, О.В. Решетник, Т.П. Владімірова, В.Б.Молодкін, С.Й.Оліховський, Б.В. Шелудченко, Р.Ф. Середенко, О.С. Скакунова Вплив дефектів у монохроматорі на профілі трикристальної рентгенівської дифрактометрії // Металлофиз. новейшие технол. – 2007. – 29, № 5. – С. 701 – 710.

  2. Т.П. Владімірова, Р.Ф.Середенко, В.Б. Молодкін, С.Й. Оліховський, Є.М.Кисловський Модифікований динамічний модель високороздільної двокристальної рентгенівської дифрактометрії мікродефектів у монокристалах // Металлофиз. новейшие технол. – 2007. – 29, № 6. – С. 711 – 726.

  3. Ye.M. Kyslovskyy, T.P. Vladimirova, S.I. Olikhovskii, V.B. Molodkin, E.V.Kochelab and R.F. Seredenko Evolution of the microdefect structure in silicon on isothermal annealing as determined by X-ray diffractometry // Phys. stat. sol. (a) – 2007. – 204, № 8. – С. 2591 – 2597.

  4. С.Й. Оліховський, Є.М. Кисловський, Т.П. Владімірова, В.Б. Молодкін, Р.Ф. Середенко, Є.В. Кочелаб, М.Т. Когут Природа чутливості високороздільної двокристальної дифрактометрії до характеристик декількох типів дефектів в кристалах та їх еволюції після термовідпалу // Металлофиз. новейшие технол. – 2008. – 29, № 6. – С. 721–747.