Аль Матарнех Рами. Методы и алгоритмы оценки тестопригодности цифровых устройств на этапе проектирования: Дис... канд. техн. наук: 05.13.12 / Харьковский гос. технический ун-т радиоэлектроники. - Х., 1999. - 193л. - Бібліогр.: л. 140-153.